【测试治具】的顶盖芯片是采用什么材料制作的？

文章出处：网责任编辑：作者：人气：-发表时间：2013-07-09 16:40:00

　　测试治具的探针准确度高，高强度耐高温，可以对模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试。

　　测试治具座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。寿命5-8万次以上，圆融达。座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。率、操作简易，不间断测试，降低了测试时间和人工，理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位准确。

　　测试治具优势：

　　特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

　　良好的内问电气性能，特别适合于各类测试指标稳定输出

　　适合于各类需要脱PIN的电源测试

　　适合各种电源阶段测试需要，准确的测量出结果

　　良好的机械性能，排除了不必要的干扰

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