过炉治具要求每一个电路节点至少有一个测试点。但随着器件集成度增高，功能越来越强，封装越来越小，SMT元件的增多，多层板的使用，PCB板元件密度的增大。

   对于不同的电阻值，过炉治具本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用，如此才不会因使用都的选择不当，因而产生过高的电压而烧坏被测元件，帮其测试方式为:提供一个适当的固定电流源，ICT测试要做到故障定位准、测试稳定，与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后，可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。

   要在每一个节点放一根探针变得很困难，为增加测试点，使制造费用增高，同时过炉治具为开发一个功能强大器件的测试库变得困难，开发周期延长。为此，联合测试组织(JTAG)颁布了IEEE1149.1测试标准。